| 产品特性：镀层测厚 | 是否进口：否 | 产地：江苏 |
| 加工定制：否 | 品牌：天瑞 | 型号：Thick 800A |
| 类型：多元素分析仪器 | 测试范围：镀层 | 测量时间：2-10s |
| 测量精度：***可以达到0.005um | 电源电压：220VVHZ | 适用范围：膜厚测试仪 |
产品说明、技术参数及配置
智能型Thick800A是天瑞仪器股份有限公司的集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款上照式膜厚测试仪。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析。
性能优势
高端配置——采用高分辨率SDD探测器;分辨***达140eV
上照式设计——实现微小不规则表面样品如弧形，拱上照式设计形，凹槽，螺纹等异形的快、准、稳高效检测
高精度自动化的X轴Y轴Z轴的联动装置实现对样品的精准对焦快速检测
采用高度自动定位激光，可快速精准定位测试高度，以满足不同尺寸的镀层测试
多种准直孔可供选择——准直孔：0.05*0.3mm；Ф0.1mm；Ф0.2mm；Ф0.3mm；Ф0.5mm
定位精准——样品可快速精准定位
操作简易——全自动智能集成设计，让检测轻松完成
技术优势
仪器配置高
智能型Thick 800A采用的是业内端的SDD半导体电制冷探测器，分辨率可达140eV,可以很好的区分相邻元素谱峰。
以Au/Ni/Cu镀层为例，正比计数盒仪器谱图如图一，从谱图可以看出铜镍两元素的谱峰重叠严重，金的峰形与样品本底重叠；不利于元素准确分析。
图二是半导体SDD仪器测试Au/Ni/Cu的光谱图，从谱图可以看出铜镍金这三个元素的谱峰得到很明显的区分，有利于元素精准分析。
聚焦光路设计
主界面增加曲线快速切换功能；
鼠标移动快捷键更改不需要ctrl，鼠标点哪，样品平台就会移动到哪里，更加方便客户测试；
镀层厚度自动判定，客户可以根据需要自定义判定标准；
工作曲线界面加入备注名称可编辑，并可以显示在主界面曲线界面，对英文元素做备注说明，方便客户区分，界面对客户更加友好
自动生成测试报告，测试历史数据查看、检索等
行业解决方案，如精密部件钕铁硼镀镍镀铜再镀镍，电泳漆测厚度，铝塑膜测试镀铝的厚度等
