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  • 主营产品: 元素分析仪 镀层测厚仪 光谱仪 矿石分析仪
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天瑞EXPLORER手持式X荧光分析仪镀层厚度合金检测仪
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天瑞EXPLORER手持式X荧光分析仪镀层厚度合金检测仪

EXPLORER8000手持式镀层测厚及分析仪配有专门针对镀层厚度分析专用软件,搭载Android操作系统,具有智能化、高灵敏度、测试时间短、操作流畅简易等特点。

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产品特性:无损检测 是否进口:否产地:昆山
加工定制:否品牌:天瑞 型号:EXPLORER 8000
规格:体积小、重量轻适用范围:合金镀层 膜厚测量

天瑞EXPLORER手持式X荧光分析仪镀层厚度合金检测仪详细介绍


产品说明、技术参数及配置

探险者EXPLORER手持式X荧光分析仪是天瑞仪器结合10年手持XRF技术研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术,具有自主知识产权的全***手持XRF产品。

EXPLORER 8000 手持式XRF镀层厚度分析仪是使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式手持镀层测厚分析仪。EXPLORER 8000可对大面积镀层产品进行膜厚分析,仪器不仅体积小、重量轻,可随身携带进行测量;而且性能***,堪比台式机。

性能优势


更便捷的操作
重量轻,体积小,人体工程学把手设计,配有专用仪器套,更易抓握,野外使用更方便。
270 °可旋转5寸高清屏,支持多点操控,任何光线下都能清晰显示。
密封式一体设计,具备防水防尘功能,可在恶劣环境下连续使用。
无需制备样品,可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试,也能使用测试座对样品进行较长时间的精细测试。

更***的性能


无损快速检测,对准即测,数秒即可报结果。性能堪比台式机,检测效果既快又准。
Si-PIN半导体探测器,分辨率zui低可达139eV,镀层厚度检出限0.01um,实现超薄膜厚分析要求,软件搭载FP法可同时分析合金镀层厚度和成分。
标配合金分析模块,可同时检测钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、锗、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、铟、锡、锑、铪、钽、钨、铼、铂、金、铅、铋等元素,可以据客户需求定制元素。

高端的配置
微型光管、Si-PIN探测器、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四大核心技术的引入,使其具有台式相近的测试精度。
采用***主频及大内存,超大存储空间,可海量存储数据。全新自主研发的数字多道技术,***每秒有效采谱计数可达50kcps
准直滤波系统,其组合达到极限12组,满足客户的不同条件下的检测需求。
内置800万像素高清晰摄像头,随时观察样品测试位置,使测量更加精准。

更安全的防护
智能三色预警系统:LED三色长灯带设计,360度***显示。通电开机时绿灯亮,测试红灯闪烁,设备故障黄色灯闪烁,仪器状态,一目了然。
三重安全防护功能:
a: 自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏。
b: 采用加厚防护测试壁,有效防止散射。
c: 配送防护安全罩,防周边轻基体散射。
安全联动锁装置,当软件无法控制关闭,轻轻一按,***时间保护您的安全,守护***关卡。

更智能的软件
EXPLORER8000手持式镀层测厚及分析仪配有专门针对镀层厚度分析专用软件,搭载Android操作系统,具有智能化、高灵敏度、测试时间短、操作流畅简易等特点。
全新的智能软件,一键智能操作,采用双模设计(用户模式和专家模式)。用户模式选择相应镀层曲线一键检测膜厚;专家模式可进行元素编辑,曲线标定等深入分析操作。





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