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X射线荧光镀层测厚仪航空航天材料分析仪新能源材料检测仪

产品标签  | X射线荧光测厚仪 航空航天材料分析仪 新能源材料检测仪 上照式镀层测厚仪 电镀层厚度检测仪

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X射线荧光镀层测厚仪航空航天材料分析仪新能源材料检测仪

(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。

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    产品特性：光谱仪是否进口：否产地：江苏
    加工定制：否品牌：天瑞仪器型号：EDX 2000A
    重量：40kg测量时间：5-40秒测试范围：13Al铝-92铀U之间
    可测元素：同时可分析5层以上元素检出限：金属镀层分析最薄可达0.005μm含量测试范围：0.1%--99.9%
    含量稳定性：多次测量重复性可达0.5%分析道数：多道分析器4096道分析方法：FP法与EC法兼容的镀层厚度分析
    外型尺寸：497(W)×427(D)×468(H)mm

    X射线荧光镀层测厚仪航空航天材料分析仪新能源材料检测仪详细介绍






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